Kính hiển vi điện tử truyền qua TEM

KÍNH HIỂN VI ĐIỆN TỬ TRUYỀN QUA LIBRA 120

Kể từ khi Hai nhà khoa học người Đức: Max Knoll và Ernst Ruska phát minh ra kính hiển vi điện tử truyền qua (Transmission Electron Microscope - TEM) trên thế giới năm 1931. Phát minh này đã mở ra một kỷ nguyên mới cho việc nghiên cứu và quan sát những mẫu vật trong thế giới siêu vi mô. Ngày nay, TEM là một thiết bị nghiên cứu rất quan trọng trong các ngành khoa học nhằm quan sát và phân tích các đặc tính về cấu trúc, hình thái và thành phần của mẫu vật ở cấp độ nanô mét.
Hiển vi điện tử truyền qua là một thiết bị không thể thiếu khi nghiên cứu về vật liệu có kích thước nano, TEM không những cho các nhà nghiên cứu biết được các thông tin về những đặc trưng về hình thái, cấu trúc của vật liệu mà còn cho phép kiểm soát được chất lượng của vật liệu chế tạo được (tính đồng nhất về cấu trúc và kích thước, độ lặp lại, sự sai hỏng, khả năng phân tán…). Đặc biệt, khi kết hợp với những phép phân tích khác kèm theo hiển vi điện tử truyền qua như EDX, nhiễu xạ điện tử còn cho biết bản chất và thành phần của mẫu.
Tuy nhiên, hiển vi điện tử truyền qua là một phương pháp nghiên cứu tương đối phức tạp và có nhiều kỹ thuật khác nhau, tuỳ thuộc vào đối tượng và mục đích nghiên cứu, các thiết bị phụ trợ và hoá chất chuyên dụng. Vì vậy, người sử dụng phương pháp TEM trong nghiên cứu vật liệu nano không những phải am hiểu về các thuộc tính của mẫu, khả năng phân tích vi cấu trúc, mà còn phải hiểu được qui trình chuẩn bị mẫu để vận dụng, khai thác thông tin thích hợp. Trong nhiều trường hợp, khi phân tích mẫu vật liệu nano sẽ gặp những giả hạt có kích thước nano hình thành bởi màng cabon bị chùm điện tử bắn phá, các chất bụi bẩn hoặc lỗi trong quá trình chuẩn bị mẫu đều ảnh hưởng đến kết quả phân tích.
(Transmission Electron Microscopes)

• LIBRA120 kết hợp những đặc tính đã được chứng minh và sự đơn giản trong sử dụng so với dòng trước đây của nó với các chức năng điện tử điều khiển mới hoàn toàn, giao diện người sử dụng dựa trên Windows, và hệ chân không tăng cường.
• Hệ thống nguồn sáng linh hoạt cao, cùng với bộ lọc cấp độ tương phản ảnh tuyệt vời từ cả các mẫu mỏng và dày. Các mode điều khiển độc nhất đảm bảo chất lượng ảnh tốt nhất và các thông tin tối ưu nhất từ mẫu của bạn.
• Phát hiện tối ưu nhất cho phép sử dụng CCD và công nghệ mặt phẳng ảnh cho phân tích EFTEM trong nghiên cứu khoa học vật liệu.

Mô tả :

• Nguồn phát xạ kết hợp với hệ thống nguồn sáng  độc nhất;
• Bộ lọc;
• Hệ thống chân không khô hoàn toàn;
• Bộ di chuyển mẫu 5 trục thuận lợi cao;
• EFTEM phân tích toàn bộ với các chế độ hoạt động cho ảnh, nhiễu xạ, và các kỹ thuật nhiệt độ thấp và đo liều thấp;
• Giao diện đồ họa sử dụng WinTEM

Ứng dụng : Lĩnh vực phát xạ trường (Scanning Electron Microscopy) FE-SEM.

- Sigma

- Merlin Series

---------------------------------------------------------------

Bảo hành, huấn luyện chuyển giao công nghệ đến từ đại diện của hãng Zeiss (Germany)